立式反射率测试仪

SM120 立式反射率测试仪

在太阳能电池制造领域，获得太阳能硅片的反射率对生产的控制及研究有着极其重要的意义，但由于绒面的特殊表面，使得测量其反射率变得十分困难。

我们根据ISO7724和DIN5033标准结合多年光谱仪器研发经验全新推出全自动八度角积分式反射仪SM120正是针对这一问题的解决方案，SM120立式反射率测试仪应用在电池片制绒工序监控环节，为客户电池片质量品质把控，降低损耗提供了有效的检测方案。

1.产品特点：

·全自动电脑控制，自动校准，快速准确测量;

·支持全自动二维扫描(Mapping);

·自动计算多点平均反射率;

·超长寿命光源;

·结构设计合理，操作简单，维护方便;

·保障设备稳定运行而无需经常校准。

2.应用领域：

·半导体镀膜    ·光学镀膜     ·液晶显示    

·微电子系统    ·生物医学

3. 选型与规格参数：

光学膜厚仪通过测量薄膜的光学性质来确定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波长的光线下会发生干涉现象。当光线穿过薄膜时，会发生反射和透射，反射和透射的光线会发生干涉，形成明暗条纹。通过测量这些干涉条纹的特征，可以计算出薄膜的厚度。

光学膜厚仪通常使用白光或单色光源照射在薄膜上，然后测量反射光的强度或干涉条纹的间距，从而推断出薄膜的厚度。这种方法适用于各种类型的薄膜，如光学镀膜、涂层、光学薄膜等。通过光学膜厚仪可以非常精确地测量薄膜的厚度，广泛应用于光学、电子、材料等领域。